POLISH ACADEMY OF SCIENCES

Mikroskop Sił Atomowych AFM (Atomic Force Microscope) MultiMode, NanoScope 3D, di-Veeco służy do badań właściwości powierzchniowych próbek, pozwala na utworzenie topograficznej mapy powierzchni oraz jej zwymiarowania. Standardowo dostępne są następujące tryby pracy: kontaktowy, bezkontaktowy oraz mieszanego kontaktu, który jest najodpowiedniejszy do badań polimerów. Mikroskop wyposażony jest w skaner piezoelektryczny o nominalnym zakresie skanowania do 10x10 µm w osiach XY oraz do 2,5 µm w osi Z. Dodatkowo wyposażony jest w system grzewczy, pozwalający wykonywać pomiary w temperaturze do 60°C oraz w celkę cieczową do pomiarów próbek zalanych cieczą. Pomiary mogą być wykonywane na przewodnikach, półprzewodnikach i izolatorach.