POLISH ACADEMY OF SCIENCES

Main Page Surface analyses Mikroskop sił atomowych...
  • Main Page
  • Research
  • Education
  • International Co-operation
Polish (Poland)English (United Kingdom)

Main menu

  • Main page
  • Structure & organisation
  • Equipment
  • Centres of excellence
  • Public contracts
  • Library
  • Polish Jurnal of Applied Chemistry
  • Seminars and lectures
  • Events
  • Archiwum
  • Praca

General information

  • History
  • Location
  • Board
  • Scientific Council
  • Sekretariat Naukowy
  • People

News

  • Spot informacyjny
  • Seminar - mgr Natalia Oleszko, 10 May 2012
  • Lecture - Prof. dr. hab. Jerzy Silberring, 27 April 2012
  • Publiczna dyskusja nad rozprawą doktorską mgr. inż. Marcina Libery
Mikroskop sił atomowych AFM (Atomic Force Microscope) TMX 2000 Explorer Print
There are no translations available.

Mikroskop sił atomowych AFM (Atomic Force Microscope) TMX 2000 Explorer firmy TopoMetrix może pracować w standardowym trybie kontaktowym. Maksymalne pole skanowania może wynosić 130 mikrometrów x 130 mikrometrów lub 2 mikrometry x 2 mikrometry w zależności od użytego skanera. Rozdzielczość w płaszczyźnie x, y może dochodzić do dziesiątych części nanometra.
 

Equipment

  • Mass Spectroscopy
  • Resonance Spectroscopy
  • Infrared absorption spectroscopy
  • UV-VIS-NIR absorp. spectroscopy
  • Fluorimetry
  • Analytical services
  • Gel Permeation Chromatography
  • Thermochemical analyses
  • Thermogravimetry
  • Mechanical properties analyses
  • Electrical properties analyses
  • Structural analyses
  • Surface analyses
  • Thin layers analyses
  • Preparation of films via blowing..
  • Transport properties determination
© 2012 Centre of Polymer and Carbon Materials of the Polish Academy of Sciences  en-gb IP Address: 38.107.179.210